 |
어플리케이션
| 자동차 디스크 외관 검사 | 검사기 사양 | 카메라
| PC | 25MP CL + 5MP GigE
| i9 12th, RTX 4070 Super
| 알고리즘
| 룰베이스+딥러닝
| 솔루션
| * 고해상도 카메라를 적용하여 0.2mm의 미세 불량 검출
* 다수 카메라에서 취득한 이미지를 바코드를 통해 취합하여 데이터 베이스 제작 |
|
| |
 |
어플리케이션
| 2차 전지 베터리(원통형) 외관 검사 | 검사기 사양 | 카메라
| PC | 5MP CL
| i9 10th, RTX 3070
| 알고리즘
| 딥러닝
| 솔루션
| * 30ms당 1장의 이미지를 검사하는 고속 처리 시스템
* 원통형 베터리의 옆면 전체 검사 영역 적용 (360도 검사) |
|
 |
어플리케이션
| 2차 전지(모듈팩) 치수 검사 | 검사기 사양 | 카메라
| PC | 25MP CXP
| i9 12th, RTX 4080
| 알고리즘
| 룰베이스+딥러닝
| 솔루션
| * 고해상도 카메라를 적용하여 넓은 면적의 치수 측정 적용
* 오차범위 0.1mm이하의 정밀한 치수측정
* 정밀도 향상을 위한 캘리브레이션 및 이미지 합성 적용 |
|
| |
 |
어플리케이션
| 튜브 투과 검사 (튜브 내 분체 유무)
| 검사기 사양 | 카메라
| PC | 1.3MP CL (SWIR)
| i9 12th, 그래픽카드 미적용
| 알고리즘
| 룰베이스
| 솔루션
| * 고속 이미지 처리 (이미지 1장 기준 22ms)
* 특수카메라(SWIR) 적용하여 튜브를 투과하여 내부 검사 진행 |
|
| |
 |
어플리케이션
| 2차 전지(모듈팩) 외관 찍힘 검사 | 검사기 사양 | 카메라
| PC | 25MP CXP
| i9 12th, RTX 4080
| 알고리즘
| 딥러닝
| 솔루션
| * 대면적의 모듈팩 하부 불량 검출
* 각 영역별로 사용자가 요구하는 불량 형태 검출 |
|
| |
 |
어플리케이션
| 2차 전지 (파우치) 모서리부 외관 불량 검사 | 검사기 사양 | 카메라
| PC | 5MP GigE (편광)
| i7 12th, RTX 3070
| 알고리즘
| 딥러닝
| 솔루션
| * 편광 카메라 이미지를 이용
* 각 코너 별 반사광이 적은 이미지 선정 |
|
| |
 |
어플리케이션
| 천 내수압 측정 검사 | 검사기 사양 | 카메라
| PC | 5MP CXP (SWIR)
| i7 14th, 그래픽카드 미적용
| 알고리즘
| 룰베이스
| 솔루션
| * 기구부 간섭 방지를 위한 카메라 외관 특수 제작
* SWIR카메라를 적용하여 가시광 외 영역에서 물방울 인식 |
|
| |
 |
어플리케이션
| 2차 전지(원통형) 외관 검사 | 검사기 사양 | 카메라
| PC | 2MP GigE
| i7 10th, RTX 3070
| 알고리즘
| 룰베이스 + 딥러닝
| 솔루션
| * 비지도 학습 (양품 이미지만 학습 진행하여 불량 검출)
* 표면 결함 및 탭 결함 검출 |
|
| |
 |
어플리케이션
| 디스플레이 판넬 기포 검사 | 검사기 사양 | 카메라
| PC | LINE SCAN CAMERA
| i7 9th, RTX2080
| 알고리즘
| 딥러닝
| 솔루션
| * 라인스캔카메라를 이용한 대면적 외관검사
* 사이즈 필터를 이용하여 1mm 이상의 기포 불량 검출 |
|
| |
 |
어플리케이션
| 세탁물 라벨 분류 검사 | 검사기 사양 | 카메라
| PC | 5MP GigE
| i7 10th, RTX 3070
| 알고리즘
| 딥러닝
| 솔루션
| * 세탁물 분류 및 세탁법 매칭 검사 적용 |
|
